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示例

场发射透射电子显微镜

  • 型号规格:Tecnai G2F30 STWIN
  • 仪器类别:分析仪器
  • 仪器原值:599.44万元
  • 所属单位:大连理工大学
  • 生产厂商:FEI
  • 产地国别:美国
  • 启用日期:2016-07-01
  • 仪器所在地区:大连市
  • 仪器安放地址:辽宁省大连市甘井子区凌工路2号
浏览量:101
仪器服务信息
  • 联 系 人:李少杰
  • 联系电话:0427-2631844
  • 电子邮箱:lisj@dlut.edu.cn
收费标准

已经建立收费标准,按测试内容的不同分类收取,具体详见我校大型设备共享平台

技术指标

1、加速电压:50~300 kV 2、分辨率:  点分辨率:0.20 nm  线分辨率:0.102 nm  信息分辨率:0.14 nm 3、放大倍数:60~1,000,000 4、扫描透射(STEM):  分辨率:0.16 nm  放大倍数:150X~230MX 5、能谱仪:  分辨率:优于136 eV  分辨元素范围:5B~92U

主要功能

Tecnai G2 F30场发射透射电子显微镜是一个真正多功能,多用户环境的300 kV场发射透射电子显微镜,它将各种透射电镜技术,包括CTEM、SAED、STEM、EDX有机组合,形成强大的分析功能,可在原子尺度上提供纳米材料的内部结构、电子结构及化学环境等信息,同时可对材料组成元素进行线分布和面分布分析,获得高空间分辨率的定性、定量信息,可对各种固态样品表面形貌的观察,获得表面形貌的二次电子像、背散射电子像。主要用于无机材料的显微形貌、晶体结构和相组织的观察与分析,及各种材料微区化学成分的定性和定量检测。

服务内容

样品测试、分析检测、技术咨询

服务咨询:024-24211361

主办单位:辽宁省科学技术厅

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