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示例

场发射球差校正透射电子显微镜

  • 型号规格:JEM-ARM200F
  • 仪器类别:分析仪器
  • 仪器原值:1010万元
  • 所属单位:东北大学
  • 生产厂商:日本电子株式会社
  • 产地国别:
  • 供货商:
  • 仪器所在地区:沈阳市
  • 仪器安放地址:沈阳市和平区文化路3号巷11号
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仪器服务信息
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仪器共享信息
  • 设备编号:
  • 年有效机时:
  • 对外共享机时:
  • 使用状态:在用
  • 运行状态:正常
技术指标

点分辨0.2nm,线分辨0.1nm,STEM分辨率0.08nm

主要功能

仪器简介

场发射球差校正透射电镜可对金属、矿物、半导体、陶瓷、生物、高分子、复合材料、催化剂等材料进行微观形貌、晶体结构、晶体缺陷、晶粒晶向、成份分析、纳米颗粒及原子像观察。利用微区电子衍射、会聚束电子衍射及元素分析可对小至0.2nm尺度的物质进行结构和成分分析,特别适用于普通透射电镜难以分析的微细析出相,界面等极小区域内成分、结构的研究。

主要附件