800元/h
分辨率:TEM线分辨率≤0.14 nm,TEM信息分辨率≤0.12 nm,STEM分辨率≤0.16 nm 加速电压:200 kV 样品台运动总行程:X,Y≥2mm,Z≥0.75 mm,最大α倾转角±35°,β倾转角±30°
Talos F200i 属于通用型场发射透射电子显微镜,可对多种类型的材料进行显微结构研究。主要成像模式包括明场/暗场TEM衍衬像,高分辨相干成像(HRTEM),扫描透射(STEM)成像,其主要功能是材料物相组成分析(晶体结构及化学成分)、晶体缺陷及界面结构分析等。
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