面议

1.测量能力：一次性获得全穆勒矩阵16个元素(ml1归一化，8组rpp,rss主对角偏振元素，8组rsp,rps辅对角偏振元素)、偏振态Psi/Delta(其中Delta值域：-90-270°,360度无死角)、反射率/透射率、退偏指数等光谱 2.光谱范围：380-1000nm覆盖可见到近红外波段，无光纤外接设计，光谱间隔优于0.8nm3.测量时间：单点测量不超过15秒 4.光斑尺寸：大光斑模式2-4mm,微光斑模式200μm 5.可视化调平系统：支持样件台可视化辅助对准调平 6.调制技术：超级消色差双旋转补偿器PCr1SCr2A调制技术 7.光强调节方式：针对不同样件自动适应调制采集光强积分时间8.入射角范围：45-90°(5度步进) 9.样品台：支持Z向，俯仰可调，支持样件尺寸到φ200mm,支持样件真空吸附固定 10.重复性测量精度：优于0.005nm(100nmSiO2硅片，30次重复测量)等...

1.可测量多种薄膜材料的厚度、光学常数、表面粗糙度、界面层等参数，如电介质、半导体、有机物等薄膜的相关参数 2.通过测量宽光谱内不同波长光束经过样品反射的偏振态变化，精确获得从深紫外到近红外的宽光谱材料光学特性，能分析带粗糙表面和未知材料组份的多层复杂薄膜结构

1.为科研机构和企业的材料研究、薄膜研发等提供高精度的测量数据，助力新型材料的开发与性能优化 2.在工业生产中，如光伏、半导体等领域，对产品的薄膜质量进行快速、准确的检测与监控，确保产品质量和性能的一致性